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本发明提供一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法，主要解决了现有技术不具备电压调节功能或现有调节方法已损坏主板、不稳定、无法进行性能调试的问题。该应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法主要包括连线、测试以及上电检测等步骤...
该专利属于西安华芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安华芯半导体有限公司授权不得商用。

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