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本发明公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法，所述电路系统包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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