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本发明公开了一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，该方法包括如下步骤：第一步，根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步，若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用...
该专利属于南京师范大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京师范大学授权不得商用。

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