一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，该方法包括如下步骤：第一步，根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步，若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法处理GTEM结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM结果。针对GTEM小室用于辐射发射的测试实验，本发明专利技术提出的基于电磁干扰源特征的GTEM辐射干扰测量方法，能大大提高GTEM小室用于辐射EMI测试时的测试结果精度，为基于GTEM辐射EMI测量提供了有效参考。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，具体说就是 针对目前利用GTEM小室进行EMI测试时精度较差现象，提出针对不同辐射源类型的不同 GTEM测试方法。为利用GTEM进行辐射EMI测试提供了有效借鉴，属于电磁兼容

技术介绍
现代电子产品正向小型化、智能化发展，开关器件频率越来越高，设计更加复杂， 使设备遭受辐射电磁干扰问题日益加重，并且对系统的抗干扰能力的要求越来越高。因而， 为了节省产品开发费用与时间，进行辐射电磁干扰噪声测试研究是必不可少的。电磁兼容测试(EMC)包括测试方法、测试仪器和试验场所。目前，国内外常用的试 验场地有开阔场、半电波暗室、屏蔽室、混响室及横电磁波小室等。EMC测试必须依据EMC 标准和规范给出的测试方法进行，并以标准规定的极限值作为判据。对于预兼容测试，尽管 不能保证产品通过所有项目的标准测试，但至少可以消除绝大部分的电磁干扰，从而提高 产品的可靠性。而且能够指出该如何改进设计、抑制电磁干扰(EMI)发射。电磁兼容测试 标准主要有民品GB17626系列；军品GJB151A/GJB152A。民品测试项目有电快速瞬变脉冲 群抗扰度试验、浪涌(冲击)抗扰度试验、电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验、静 电放电抗扰度试验、射频电磁场辐射抗扰度试验、传导发射试验和辐射发射试验。军品测试 有CElOU CE102、CS106、CS114、CS116、RE102等。测试内容包括电磁干扰和电磁敏感度两 部分，电磁干扰测试是测量被测设备在正常工作状态下产生并向外发射的电磁波信号的大 小来反应其对周围电子设备干扰的强弱。电磁敏感度测试是用来衡量被测设备对电磁骚扰 的抗干扰能力的强弱。目前针对电子产品辐射电磁干扰噪声测试的标准测试方法主要是指 开阔场测试以及3m, 5m, IOm电波暗室测试。但是开阔场测试以及3m, 5m, IOm电波暗室对场 地要求较高且造价昂贵，一般企业无法承受。利用GTEM小室进行辐射EMI测试既能减少测 试费用，又能很好地预估辐射电磁干扰噪声，引起了广泛的关注。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题针对目前利用GTEM小室进行辐射EMI测试时精度较 低且没有进行噪声源分类的问题，本专利技术提供了一种以共模辐射模型为主的极差-均值测 量法以及以差模辐射模型为主的方差测量法。该方法通过修正现有Wilson方法，进一步提 高了 GTEM小室测量辐射EMI噪声精度。为了解决以上问题，本专利技术采用以下技术方案一种基于共模阻抗修正模型的辐射目标重构方法，包括如下步骤第一步根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模 辐射为主还是以差模辐射为主；第二步若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法 处理GTEM结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM结果。所述方差法处理是将差模辐射特性为主的被测设备GTEM小室测量结果与电波暗室测量结果误差补偿到GTEM小室测量结果上；所述极差-均值法处理是指将GTEM小室测量结果与电波暗室测量结果对应频点数据极差求和取平均后补偿到GTEM小室测量结果上。针对GTEM小室用于辐射发射的测试实验，本专利技术提出了基于电磁干扰源特征的 GTEM辐射干扰测量方法针对以共模辐射源特征为主的被测设备提出了极差-均值法处理 GTEM数据；针对以差模辐射源特征为主的被测设备提出方差法处理GTEM数据。从而大大提高了 GTEM小室用于辐射EMI测试时的测试结果精度，为基于GTEM辐射EMI测量提供了有效参考。附图说明图1是本专利技术的共模辐射结果，Ca)共模辐射干扰产生电路，(b)电波暗室测试结果，(c) GTEM测试结果。图2是差模辐射结果，Ca)差模辐射干扰产生电路，(b)电波暗室测试结果，(c) GTEM测试结果。图3是实施例的测试结果，Ca)具有差模特征的电子助视器的近场波阻抗特性， (b)测量结果。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细地说明。在GTEM小室测量电磁干扰噪声应用中，需要将GTEM小室所测得的数据转换为等效的开阔场或电波暗室测试场强值。有关GTEM小室作为一种辐射EMI测试装置的研究主要有总功率法、Wilson和Lee这3种关联算法。其中Wilson算法是在总功率算法的基础上发展的，其中对于电小尺寸辐射体而言，辐射场强在X、1、z 3个方向上的分量可以用电偶极矩和磁偶极矩进行描述。以X方向为例，被测物体在远场中的辐射电场分量可表示为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，包括如下步骤：第一步：根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步：若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差?均值法处理GTEM小室测量结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM小室测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，包括如下步骤 第一歩根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主； 第二歩若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法处理GTEM小室測量结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM小室测...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，张宇环，刘勇，窦爱玉，夏欢，陈旸，颜伟，周荣锦，
申请(专利权)人：南京师范大学，
类型：发明
国别省市：