一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，该方法包括如下步骤：第一步，根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步，若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法处理GTEM结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM结果。针对GTEM小室用于辐射发射的测试实验，本发明专利技术提出的基于电磁干扰源特征的GTEM辐射干扰测量方法，能大大提高GTEM小室用于辐射EMI测试时的测试结果精度，为基于GTEM辐射EMI测量提供了有效参考。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及的是一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，具体说就是 针对目前利用GTEM小室进行EMI测试时精度较差现象，提出针对不同辐射源类型的不同 GTEM测试方法。为利用GTEM进行辐射EMI测试提供了有效借鉴，属于电磁兼容

技术介绍
现代电子产品正向小型化、智能化发展，开关器件频率越来越高，设计更加复杂， 使设备遭受辐射电磁干扰问题日益加重，并且对系统的抗干扰能力的要求越来越高。因而， 为了节省产品开发费用与时间，进行辐射电磁干扰噪声测试研究是必不可少的。电磁兼容测试(EMC)包括测试方法、测试仪器和试验场所。目前，国内外常用的试 验场地有开阔场、半电波暗室、屏蔽室、混响室及横电磁波小室等。EMC测试必须依据EMC 标准和规范给出的测试方法进行，并以标准规定的极限值作为判据。对于预兼容测试，尽管 不能保证产品通过所有项目的标准测试，但至少可以消除绝大部分的电磁干扰，从而提高 产品的可靠性。而且能够指出该如何改进设计、抑制电磁干扰(EMI)发射。电磁兼容测试 标准主要有民品GB17626系列；军品GJB151A/GJB152A。民品测试项目有电快速瞬变本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，包括如下步骤：第一步：根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主；第二步：若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差?均值法处理GTEM小室测量结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM小室测量结果。

【技术特征摘要】
1.一种基于辐射源特征的GTEM小室辐射EMI测试方法，包括如下步骤 第一歩根据近场波阻抗理论判定被测设备辐射源类型，即判定辐射源是以共模辐射为主还是以差模辐射为主； 第二歩若判定被测设备辐射源类型以共模辐射特性为主，则采用极差-均值法处理GTEM小室測量结果；若判定被测设备辐射源类型以差模辐射特性为主，则采用方差法处理GTEM小室测...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，张宇环，刘勇，窦爱玉，夏欢，陈旸，颜伟，周荣锦，
申请(专利权)人：南京师范大学，
类型：发明
国别省市：