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本发明公开了一种表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法,被测器件的输出与定向耦合器相连,定向耦合器与信号发生器相连,每个定向耦合器的两路输出分别依次通过功率检波器和模数转换器与中央控制器连接;它还包括电压检测电路、电流检测电路和温...该专利属于成都泰格微电子研究所有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都泰格微电子研究所有限责任公司授权不得商用。
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本发明公开了一种表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法,被测器件的输出与定向耦合器相连,定向耦合器与信号发生器相连,每个定向耦合器的两路输出分别依次通过功率检波器和模数转换器与中央控制器连接;它还包括电压检测电路、电流检测电路和温...