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校正试样和荧光X射线分析装置与荧光X射线分析方法制造方法及图纸
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文档序号:8592850
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本发明的课题在于提供一种校正试样和荧光X射线分析装置与荧光X射线分析方法,提供液体试样的荧光X射线分析用的校正试样等,其可长期使用,且可进行正确的偏差校正。本发明的校正试样为固体的校正试样,该校正试样用于在液体试样的荧光X射线分析中,校正分...
该专利属于株式会社理学所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社理学授权不得商用。
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