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本发明公开了一种基于倏逝场照明的移频超分辨显微成像方法，包括以下几个步骤：1)入射照明光倾斜照射在基板介质分界面上进行全反射并产生倏逝场；2)使用倏逝场对样品表面进行照明，并通过显微镜接收样品表面的强度图像；3)对强度图像进行傅里叶变换得到...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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