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本实用新型提供了一种激光器发散角及光斑形状测量装置。所述测量装置中使用多个45°全反镜在二维方向上展开光路，缩短测量装置中光路两端间的直线距离，使测量装置更紧凑，测量数据更准确，并且通过使用多个45°全反镜可以同时测量激光器的任意参数，具有...
该专利属于中国科学院光电研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院光电研究院授权不得商用。

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