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本发明涉及测试多集成电路器件的方法及装置。实施例包括的系统包括至少一个集成电路（IC）以及用于对它们进行测试的方法。每个IC包含用于接收输入信号的输入互联体，用于接收测试启用信号的测试启用互联体，以及用于执行该集成电路测试的控制器（例如，T...
该专利属于飞思卡尔半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过飞思卡尔半导体公司授权不得商用。

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