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本发明公开了一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，包括步骤：S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各...
该专利属于福建工程学院所有，仅供学习研究参考，未经过福建工程学院授权不得商用。

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