微小环型磁性元件的视觉检测方法及其设备技术

本发明专利技术公开了一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，包括步骤：S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度；S3、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比较检测出残次品，同时公布了一种完成上述方法的设备，使用本发明专利技术的方法和设备检测微小环型磁性元件，提高了检测的效率、提高了检测的准确度人物的引起的错误检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微小环型磁性元件的检测领域，尤其涉及一种微小环型磁性元件的视觉检测方法及其设备。
技术介绍
微小环型磁性元件的批量生产须经过烧结这道工艺，之后手工掰离这些微小元件。这个过程必然造成微小环型磁性元件端面的损伤，此外烧结过程中不可避免地带来元件表面的结晶。为保证产品质量，必须对产品进行检测。目前，检测工作大多是人工进行，劳动强度大，每个工人的效率和评判标准也不一致，影响对微小环型磁性元件检测的速率和准确度。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种快速检测微小环型磁性元件是否为残次品的视觉检测方法及其设备。为了实现上述目的，本专利技术首先提出的一种微小环型磁性元件的视觉检测方法为一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，包括步骤S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度；S3、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将所述微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，其特征在于，包括步骤：S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度；S3、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将所述微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比较，若微小环型磁性元件上的各缺陷的线度中至少一处大于对应缺陷线度的允许值，则确定该微小环型磁性元件为残次品，若微小环型磁性元件上的各缺陷的线度值均小于对应缺陷线度的允许值，则确定该微小...

【技术特征摘要】
1.一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，其特征在于，包括步骤 51、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上； 52、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度； 53、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将所述微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比较，若微小环型磁性元件上的各缺陷的线度中至少一处大于对应缺陷线度的允许值，则确定该微小环型磁性元件为残次品，若微小环型磁性元件上的各缺陷的线度值均小于对应缺陷线度的允许值，则确定该微小环型磁性元件为合格品。2.根据权利要求1所述的微小环型磁性元件的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S3后还包括步骤S4取出残次品，其方法是，确定残次品的同时确定其位置，并驱动气动装置将残次品吹进一专门收集残次品的装置中。3.根据权利要求1或2所述的微小环型磁性元件的视觉检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，图片处理器同时对图片上的多个微小环型磁性元件图案进行分析处理。4.一种微小环型磁性元件的视觉检测设备，其特征在于，包括滚道、摄像机、驱动装置和主控装置； 所述滚道由所述驱动装置驱动，用于传送微小环型磁性元件；所述摄像机数量为两个，分列于滚道两侧相对设置，摄像机的镜头前设有用于放大微小环型磁性元件的光学显微镜; 所述驱动装置、摄像机分别连接所述主控装置，该主控装置内设置有图片处理器，且所述图片处理器内存储有微小环型磁性元件不同缺陷线度的允许值； 当滚道上的微小环型磁性元件进入摄像机镜头的拍摄区...

【专利技术属性】
技术研发人员：余罗兼，何炳蔚，陈世辉，龚世代，
申请(专利权)人：福建工程学院，
类型：发明
国别省市：