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本发明揭示了一种针对破损光纤几何参数的检测系统及方法，所述方法包括：读取光纤图像；阈值选取步骤，统计灰度直方图，选取最佳阈值；图像二值化处理步骤，对图像进行二值化处理；边缘点选择步骤，在二值化图像中精确的选择外边缘和内边缘点；椭圆拟合及参数...
该专利属于上海理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海理工大学授权不得商用。

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