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一种光学设备及光学定址方法，光学设备，用于定址待测的检体，包括光学装置、控制器及处理模块。光学装置包括光源、检体检测装置及位置检测装置。检体检测装置包括第一物镜及第一感测器，光源的光束利用第一物镜聚焦于检体区的检体。位置检测装置包括第二物镜...
该专利属于财团法人工业技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过财团法人工业技术研究院授权不得商用。

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