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本发明提供了一种加速的PID测试方法，步骤为：（1）清洁组件表面；（2）在组件表面撒上少量的液体；（3）把导电薄膜覆盖在组件表面，保证导电薄膜与组件良好接触；（4）把组件放入环境实验箱内，将组件正负极短路，并从导电薄膜与组件接线端引出导线到...该专利属于奥特斯维能源（太仓）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥特斯维能源（太仓）有限公司授权不得商用。
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