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一种多芯片的测试方法及其点测机，多芯片的测试方法供一点测机对多个待测芯片进行点测，该点测机包含多探针组，该测试方法包括下列步骤：取得该多个待测芯片的一位置数据；根据该位置数据，以该些探针组对未产生偏移的待测芯片进行点测；以及根据该位置数据移...
该专利属于致茂电子(苏州)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过致茂电子(苏州)有限公司授权不得商用。

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