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本发明公开了一种离子迁移率谱仪半透膜预富集进样方法及装置，涉及离子迁移率谱仪技术，该装置包括采样部分、半透膜进样部分和解吸部分，其中半透膜进样部分包括半透膜、半透膜温控装置；在离子迁移率谱仪半透膜富集进样过程中，采样时半透膜处于室温，而解吸...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。

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