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本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在...该专利属于爱德万测试（新加坡）私人有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试（新加坡）私人有限公司授权不得商用。
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本发明的实施例涉及用于测试多个被测器件的装置（10）和方法，其中装置包括：公用器件输出线（5）；驱动器单元（2），被配置为向DUT（DUT1,DUT2,DUT3,…,DUTN）提供激励（ST），其中驱动器单元（2）被配置成使得激励（ST）在...