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一种料位测量装置，其用于通过微波传播时间测量方法确定和监控位于容器的工艺空间中的介质料位，其中该装置包括测量发射器和天线单元，其至少由中空导体和辐射元件构成，其中为了工艺隔离，将微波传输型工艺隔离元件插入所述测量发射器和接触所述工艺空间的喇...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔两合公司授权不得商用。

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