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本发明公开了一种非易失性存储器IP核的测试和验证开发系统，包括：电源模块，为该系统中的各个模块提供电源；NVM?IP核，就是待测试、待开发、待验证的对象；BIST电路，与所述NVM?IP核相连接，用于对所述NVM?IP核进行测试；上位机，其...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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