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本发明提供一种通过随机存取存储器RAM芯片地址引脚检测缺陷的测试方法，包括：向数量等于RAM芯片地址总线位数增加一、地址为全零以及地址为各条地址总线依次唯一地为1且其余地址总线为0的、特定的RAM存储单元写入相应的彼此不同的数据；读出所述特...
该专利属于施耐德电器工业公司所有，仅供学习研究参考，未经过施耐德电器工业公司授权不得商用。

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