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本发明涉及一种基于平面的微纳物体图像倾斜校正方法，包括以下步骤：对获取的图像数据进行数据提取，以获得被测物体上表面每个点的高度数据；用户判断高度图像是否倾斜，是否需要进行倾斜校正；若需要进行倾斜校正，则将测量的上表面拟合成一个倾斜平面，并确...
该专利属于北京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京理工大学授权不得商用。

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