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本发明提供一种目标雷达散射截面测量与定标处理的方法，包括：在t1时刻，测量获取安装定标体支架后的测试场背景回波SBC(f,t1)，SBC(f,t)=HC(f,t1).BC(f,t1)；在t2时刻，测量获取安装定标体后的定标体回波SC(f,t...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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