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本发明公开了一种测量和表征MOS器件失配特性的系统及方法，用于测量和表征MOS器件阵列中各尺寸MOS器件的失配特性。所述系统包括MOS器件阵列模块，地址模块、测试模块、计算转换模块、控制模块等，可计算得到MOS器件阵列中相同尺寸的MOS器件...
该专利属于上海集成电路研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海集成电路研发中心有限公司授权不得商用。

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