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本发明公开了一种共形承载微带天线阵面形貌对电性能影响的预测方法，主要解决现有技术不能预测阵面形貌变化对电性能影响的问题。其实现步骤是：（1）根据设计指标，建立几何模型，获得理想阵面形貌；（2）利用分形函数描述制造引起的阵面形貌误差，并施加气...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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