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本实用新型涉及一种芯片测试系统，与外部测试芯片连接，包括上位机、测试板、IIC总线；上位机内设测试软件并通过USB接口与测试板连接,用于生成测试数据并通过USB接口传递给测试板；测试板接收测试数据并进行USB协议与IIC协议转换，通过ICC...
该专利属于无锡华大国奇科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡华大国奇科技有限公司授权不得商用。

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