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一种基于图像重叠的选择性平面照射显微成像伪影去除方法，包括：针对焦平面上同一位置图像，竖直提升样本，对样本同一位置进行多次成像；将所述同一位置的多幅图像，通过加权平均减少噪声，得到样本的整体图像。本发明可实现选择性平面照射显微成像中，图像噪...
该专利属于中国科学院自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院自动化研究所授权不得商用。

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