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提供一种用于利用磁场测量终端的位置的方法和设备。例如，该设备可利用由磁场传感器获取的磁场和有多个其他传感器获取的一个或多个传感器值，测量终端的位置。...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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