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同轴检测光正入射获得干涉图像的装置属于激光检测技术领域。本发明前圆周透镜与后圆锥透镜二者同轴且圆锥顶角相对，前圆锥透镜的底面朝向检测光光源，前圆锥透镜及后圆锥透镜均沿圆锥轴线开通孔，检测光入射轴线与该通孔轴线同轴；光阑位于在后圆锥透镜底面上...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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