温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及测量技术领域，具体涉及一种镀层厚度测量技术。厚薄两用镀层厚度测量仪，包括一设备支架，至少一固定在设备支架上的光检测装置，光检测装置连接一微型处理器系统，光检测装置设有一光源，光源采用红外激光器；光检测装置设有一光敏元件，光敏元件采...
该专利属于上海宏昊企业发展有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海宏昊企业发展有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。