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本发明属于测量技术，涉及一种厚度测量系统，特别是一种应用于金属材料或非金属材料厚度测量的脉冲激光体纵波测量系统。厚度测量系统将分光镜和凸透镜依次设置在同一光路上，光电二极管位于分光镜的反射光路上接收分光镜的反射光，光电二极管输出的电信号与电...
该专利属于中国航空综合技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空综合技术研究所授权不得商用。

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