温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明名称为“具有半导体中子检测池的中子孔隙度测量装置和方法”。一种中子孔隙度测量装置，包括：中子源，配置成发射具有第一能量的中子；以及分段的半导体检测器，其离所述中子源一预定距离来定位。所述分段的半导体检测器包括配置成检测具有比所述第一能...
该专利属于桑德克斯有线有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过桑德克斯有线有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。