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本发明提供一种能够抑制元件特性的降低的半导体装置。所述半导体装置包括：硅基板(11)；形成在硅基板(11)的表面的碳化硅膜(12)；形成在碳化硅膜(12)的表面且具有开口部(13h)的掩膜件(13)；以在开口部(13h)露出的碳化硅膜(12...
该专利属于精工爱普生株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过精工爱普生株式会社授权不得商用。

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