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具有穿衬底通孔的半导体器件制造技术
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文档序号:8387890
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本发明涉及一种具有在其中形成的穿衬底通孔的半导体器件。在一个或多个实施方式中,所述半导体器件包括利用构图的粘结材料接合在一起的顶部晶片和底部晶片。所述顶部晶片和所述底部晶片包括在其中形成的一个或多个集成电路。所述集成电路连接至配置在所述顶部...
该专利属于马克西姆综合产品公司所有,仅供学习研究参考,未经过马克西姆综合产品公司授权不得商用。
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