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本发明提供一种透射X射线分析装置及方法，能够在使用TDI传感器检测试料的透射X射线像之际，容易且大范围地调节TDI传感器的累加级数。本透射X射线分析装置（1）检测对既定的扫描方向（L）上相对移动的试料（100）的透射X射线像进行检测，具备：...
该专利属于精工电子纳米科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过精工电子纳米科技有限公司授权不得商用。

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