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公开了用于在非易失性存储设备中同时验证或读取多个状态的方法和设备。公开了用于有效减小或排除非易失性存储设备中的交叉耦合效应的方法和设备。公开了用于在多个电压处有效执行读取以搜索存储单元的阈值电压的方法和设备。在同一时刻读取的不同NAND串上...
该专利属于桑迪士克以色列有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过桑迪士克以色列有限公司授权不得商用。

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