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本发明提供了一种测量固体热物性参数的光学系统及方法。该光学系统包括：加热激光产生组件、探测激光产生组件、合束元件、分光元件、加热激光接收组件、样品测试组件和探测激光接收组件。本发明采用信号调制的光热反射法，属于频域方法，和超短脉冲激光抽运探...
该专利属于中国科学院工程热物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院工程热物理研究所授权不得商用。

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