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一种多位/单元(multi-bit?per?cell)非挥发性内存的测试方法，包含藉由写入及读取来测试n位/单元(n-bpc)非挥发性内存，其包含多个m-bpc页，其中m为1至n之间的正整数。如果m-bpc页经测试失败，则将失败m-bpc页...
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