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本发明涉及一种电子辐照下介质材料表面电荷密度的测试方法，属于测试领域。所述方法步骤包括静电电容探头的标度，将介质样品材料放置在支撑架上表面，开启抽真空系统抽真空，开启电子枪模拟静止地球轨道（GEO）电子环境，对介质样品材料进行辐照；利用三维...该专利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所授权不得商用。