一种电子辐照下介质材料表面电荷密度的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种电子辐照下介质材料表面电荷密度的测试方法，属于测试领域。所述方法步骤包括静电电容探头的标度，将介质样品材料放置在支撑架上表面，开启抽真空系统抽真空，开启电子枪模拟静止地球轨道（GEO）电子环境，对介质样品材料进行辐照；利用三维传动机构对介质样品材料表面进行扫描测量，通过高阻计和静电电容探头得到介质样品材料表面的电位分布；结合静电电容原理，利用静电电容探头测量电压与介质样品材料表面电荷之间的关系式，计算出介质样品材料的表面电荷分布。所述方法能够拟合得出静电电容的灵敏度和施加电压的线性关系，消除了电子辐照效应，使其适应与电子辐照环境下的测试工作。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，属于测试领域。
技术介绍
空间等离子体会对飞行器表面充电，从而引起飞行器的表面电荷积累。随着表面电荷积累量增加，其产生的电场强度也随之增强。当电场强度达到表面材料的击穿阈值时， 电荷发生转移从而引起表面空间静电放电。由空间静电放电产生的瞬态脉冲耦合到飞行器电子系统时，会引起逻辑开关异常、电子系统故障或敏感元件性能下降，以致整个系统的破坏。除产生电子设备的电磁干扰和损坏外，空间静电放电也导致表面材料的损坏或物理性能衰退，从而影响飞行器的正常工作。测量材料的表面电荷分布是研究介质表面充放电效应的重要手段和内容，介质表面电荷直接与介质表面的电场分布相关，决定介质材料表面放电的特性。目前，文献 “Tenbohlem S, Schrocher G. The influence of surface charge on lightingimpulse breakdown of spacer in SF6. IEEE Trans on EI, 2000. 7 (2) :241.，，已建立了基于静电电容原理的适用于测量高压绝缘子表面电荷分布的测试系统。但是这种常规的表面电荷分布测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种介质材料表面电荷密度的测试系统，其特征在于：所述系统包括电子枪（1）、三维传动机构（2）、真空屏蔽过壁（3）、高阻计（4）、静电电容探头（5）、真空室（7）、抽真空系统（8）；其中，在真空室（7）内部，电子枪（1）安装在真空室（7）顶部；在真空室（7）底部设有支撑架，在支撑架上放置介质样品材料（6）；在真空室（7）侧壁安装有真空屏蔽过壁（3），三维传动机构（2）一端与静电电容探头（5）连接，另一端安装在真空屏蔽过壁（3）中，实现静电电容探头（5）在介质样品材料（6）表面的移动；屏蔽信号线（10）一端与静电电容探头（5）连接，另一端通过真空屏蔽过壁（3）与真空室（7）外的高阻计（4）连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：汤道坦，李得天，李存惠，秦晓刚，柳青，杨生胜，
申请(专利权)人：中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所，
类型：发明
国别省市：