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本发明涉及一种测量薄膜热电性能参数的装置和方法，本装置主体包括有：测温电阻、热沉、电流源、载物台、数据采集装置、计算机、控温箱、电压表；待测样品固定在载物台上；待测样品的一条边连接一个热沉，另外三条边分别连接一个测温电阻；利用电流源控制测量...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

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