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一种测试TTT曲线的方法技术
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文档序号:8300064
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本发明提供了一种获取液-固转变TTT曲线的方法。该方法的特点是适用于熔点在450℃以下孕育期小于10-3s的材料。所用试样为1-50微米级别的单个颗粒或1-10微米厚的薄膜,在光学显微镜下将所用试样放置于传感器的测试区域,利用金相显微镜确定...
该专利属于上海大学所有,仅供学习研究参考,未经过上海大学授权不得商用。
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