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本发明涉及一种用于物理参数的光学测量的测量设备（10），该测量设备包括：激光光源（11），用于在目标的方向上产生测量光束并用于接收被所述目标反射的测量光束，所述测量光束沿着光路行进，所述光路的变化是被确定的物理参数的函数，以及所述激光光源包...
该专利属于图卢兹国立综合理工学院所有，仅供学习研究参考，未经过图卢兹国立综合理工学院授权不得商用。

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