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本发明公开了一种划片槽内的射频测试图形结构，五个射频压焊块按照“地”—“信号1”—“地”—“信号2”—“地”的顺序沿着划片槽长度方向排放在一条直线上；其中三个接地的压焊块由田字形的金属布线相互连接，该田字形的金属布线属于硅片的第一层金属；由...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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