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本发明涉及半导体器件的并联电源连接的测试方法，一种具有内部电源总线、用于连接内部电源总线与外部电源的并联电源连接以及测试模块的半导体器件。测试模块包括用于产生第一和第二差分传感器信号的传感器，所述信号是在所选择的一个并联连接中间隔开的位置处...
该专利属于飞思卡尔半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过飞思卡尔半导体公司授权不得商用。

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