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描述了一种校准测量装置的方法，其能够提供关于该装置的测量属性的更详细的信息，其中，该测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量，在该操作程序期间，要由该装置测量的量的至少一个给定值（QR）通过对应的基准或标准提供，并且通过该装置来测量和...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔美斯泰科两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔美斯泰科两合公司授权不得商用。

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