【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测量装置的校准的方法，其中，测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量，在该至少一个预定义的操作程序期间，要由该装置测量的量的至少一个给定值通过对应的基准或标准提供，并且由该装置测量和指示，并且记录指示的测量指示和对应的测量的量的给定值。
技术介绍
测量装置在几乎所有用于测量物理量的工业分支中使用，该物理量特别是与正在进行的生产过程相关的量。用于指示由该装置测量的量的值的测量指示例如通常在用于在测量地点处监测、控制和/或调整生产过程的过程自动化中使用。为此，在市场上有大量的测量装置，例如，用于测量在容器中的产品的水平的水平 测量装置、用于测量通过管道的产品的流量的流量计、温度测量装置或压力测量装置。为了保证这些装置满足对于它们指定的特定测量属性，特别是指定的测量精度和/或符合特定的标准，在使用之前将它们校准并且如果必要则调整它们。校准是通常使用的程序，用于建立用于从测量装置的测量指示获得测量的量的测量结果的关系。校准也用于检查装置与给定的标准的符合性。在两种情况下，测量装置根据给定的操作程序来执行至少一个测量任务，在给定的操作程序期间，通过对应的基...
【技术保护点】
一种校准测量装置的方法，其中：？所述测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量，在所述操作程序期间，要由所述装置测量的量的至少一个给定值（QR）通过对应的基准或标准提供，并且通过所述装置测量和指示，？记录指示的测量指示（MI）和对应的测量的量的所述给定值（QR），？确定所述测量指示（MI）的至少一个的至少一个预定义的特性属性（E）并且与对应的阈值范围（ER）作比较，？其中，基于相应属性（E）的值的统计代表性分布来预先确定每一个阈值范围（ER），所述统计代表性分布根据利用与在校准下的所述装置相同类型的测量装置的相应操作程序而基于执行统计代表性数量的测量的执行期间记录的测量...
【技术特征摘要】
2011.07.27 EP 11175606.01.一种校准测量装置的方法，其中 -所述测量装置根据至少一个预定义的操作程序来执行测量，在所述操作程序期间，要由所述装置测量的量的至少一个给定值(Qk)通过对应的基准或标准提供，并且通过所述装置测量和指示， -记录指示的测量指示(MI)和对应的测量的量的所述给定值(QK)， -确定所述测量指示(Ml)的至少一个的至少一个预定义的特性属性(E)并且与对应的阈值范围(Ek)作比较， -其中，基于相应属性(E)的值的统计代表性分布来预先确定每一个阈值范围(Ek)，所述统计代表性分布根据利用与在校准下的所述装置相同类型的测量装置的相应操作程序而基于执行统计代表性数量的测量的执行期间记录的测量指示(MI)来确定，并且 -如果至少一个确定的特性属性(E)超过相应阈值范围(Εκ)，则指示在校准下的所述装置的潜在受损的测量属性。2.根据权利要求I所述的方法，其中，基于相应属性(E)的值在所述阈值范围(Ek)内的统计概率(P)来定量地确定所述预定义的属性(E)的所述阈值范围(Εκ)。3.根据权利要求2所述的方法，其中，基于该属性(E)的值在对应的阈值范围(Ek)内的所述统计概率(P)来确定潜在受损的测量属性的指示的可靠性水平。4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其中，根据利用与在校准下的所述装置相同类型的测量装置的相应操作程序而基于执行统计代表性数量的测量的执行期间记录的测量指示(MI)确定的相应属性(E)的值的所述统计代表性分布是相应属性(E)的概率密度函数(PDF (E))。5.根据权利要求1、2、3或4所述的方法，其中 -至少一个操作程序预见所述要测量的量的给定值(Qk)的单个测量，并且 -所述装置的所述测量指示(MI)的所述预定义的属性(E)是在所述测量指示(MI)和所述要测量的量的所述给定值(Qk)之间的差(E1 (MI, QK))。6.根据权利要求1、2、3或4所述的方法，其中 -所述操作程序的至少一个预见所述要测量的量的给定值(Qk)的重复测量，并且 -所述特性属性(E)包括 -在所述测量指示(MIi)的平均值和所述要测量的量的所述给定值(Qk)之间的偏差(EA)，和/或 -所述测量指示(MIi)和其平均值之间的均方根偏差(Es)。7.根据权利要求4和6所述的方法，其中，基于下述部分在数值上确定用于属性(EA，Es)的概率密度函数 PDF (Ea)、PDF (Es) -用于基于所述测量指示(MIi)...
【专利技术属性】
技术研发人员：迪米特里·韦西埃，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔美斯泰科两合公司，
类型：发明
国别省市：
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