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本实用新型为有关于一种RFIC(RadioFrequencyIntegratedCircuit，射频集成电路)交错式分类测试的结构，其为用来检测并分类至少一RFIC的芯片模块的分类测试装置，分类测试装置包括：至少一测试模块以及复数分类模块，...
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