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本实用新型适用于芯片烧录测试领域，提供了一种芯片烧录测试装置，所述烧录测试装置包括：使芯片利用重力向下滑动的倾斜的芯片滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针、第二光耦、第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对...
该专利属于深圳市隆芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市隆芯微电子有限公司授权不得商用。

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