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本发明公开了一种POP封装的SOC芯片DRAM输入/输出测试方法和装置，其基于IO的简单抽象，自然形成一个回路，使得DRAMIO在POP封装时的SOC测试成为可能；利用IOBIST模块，让测试结果通过GPIO输出到SOC底部，实现测试目的；...
该专利属于广东新岸线计算机系统芯片有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东新岸线计算机系统芯片有限公司授权不得商用。

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