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本实用新型提供一种阵列基板检测装置。涉及液晶薄膜晶体管的检测装置。解决了阵列基板检测装置可应用的场景的灵活性较低的问题。具体可以包括：探针，探针中用于检测阵列基板的尖端在第一温度下的横截面积与在第二温度下的横截面积不同，除尖端的探针的另一端...
该专利属于北京京东方光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京京东方光电科技有限公司授权不得商用。

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